納米粒徑與電位分析儀工業(yè)化模塊化設(shè)計(jì)可擴(kuò)展ZETA電位

Nicomp 380系列納米粒徑與電位分析儀采用動(dòng)態(tài)光散射原理檢測分析顆粒的粒度分布，主要用于檢測納米級(jí)別的體系和其他膠體體系，其粒徑檢測范圍0.3 nm-10μm。

Nicomp 380系列儀器均采用的工業(yè)化模塊化設(shè)計(jì)，可靈活方便地?cái)U(kuò)展ZETA電位和其他功能，如：的自動(dòng)稀釋系統(tǒng)、自動(dòng)進(jìn)樣系統(tǒng)、在線進(jìn)樣系統(tǒng)、多角度監(jiān)測系統(tǒng)和各種激光器/檢測器。

 

NICOMP 380 Z3000 納米粒徑與電位分析儀特點(diǎn)

1、同機(jī)測試懸浮液體的粒徑分布以及ZETA電勢電位

2、Zeta電位運(yùn)用了多普勒電泳遷移原理以及的相位分析散射法可以測試水相和有機(jī)相的樣品

3、檢測范圍寬廣，亞微米顆粒均可以被檢測

4、樣品測試量小

5、高辨析率

6、結(jié)果重現(xiàn)性好，誤差小于1%

7、100 % 樣品可回收利用

8、可搭載自動(dòng)滴定儀, 自動(dòng)稀釋器和自動(dòng)進(jìn)樣器

9、無須校準(zhǔn)

10、一次性進(jìn)樣，避免交叉污染樣品

11、可選配大功率激光發(fā)生器以及*級(jí)APD雪崩二極管檢測器來檢測粒徑小于1nm的顆粒